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SMT基本名词解释(上)

时间:2011-03-15 12:17:38 来源:未知
         

  A

  Accuracy(精度):测量结果与目标值之间的差额。

  Additive Process(加成工艺):一种制造PCB导电布线的方法,通过选择性的在板层上沉淀导电材料(铜、锡等)。

  Adhesion(附着力):类似于分子之间的吸引力。

  Aerosol(气溶剂):小到足以空气传播的液态或气体粒子。

  Angle of attack(迎角):丝印刮板面与丝印平面之间的夹角。

  Anisotropic adhesive(各异向性胶):一种导电性物质,其粒子只在Z轴方向通过电流。

  Annular ring(环状圈):钻孔周围的导电材料。

  Application specific integrated circuit (ASIC特殊应用集成电路):客户定做得用于专门用途的电路。

  Array(列阵):一组元素,比如:锡球点,按行列排列。

  Artwork(布线图):PCB的导电布线图,用来产生照片原版,可以任何比例制作,但一般为3:1或4:1。

  Automated test equipment (ATE自动测试设备):为了评估性能等级,设计用于自动分析功能或静态参数的设备,也用于故障离析。

  Automatic optical inspection (AOI自动光学检查):在自动系统上,用相机来检查模型或物体。

  B

  Ball grid array (BGA球栅列阵):集成电路的包装形式,其输入输出点是在元件底面上按栅格样式排列的锡球。

  Blind via(盲通路孔):PCB的外层与内层之间的导电连接,不继续通到板的另一面。

  Bond lift-off(焊接升离):把焊接引脚从焊盘表面(电路板基底)分开的故障。

  Bonding agent(粘合剂):将单层粘合形成多层板的胶剂。

  Bridge(锡桥):把两个应该导电连接的导体连接起来的焊锡,引起短路。

  Buried via(埋入的通路孔):PCB的两个或多个内层之间的导电连接(即,从外层看不见的)。

  C

  CAD/CAM system(计算机辅助设计与制造系统):计算机辅助设计是使用专门的软件工具来设计印刷电路结构;计算机辅助制造把这种设计转换成实际的产品。这些系统包括用于数据处理和储存的大规模内存、用于设计创作的输入和把储存的信息转换成图形和报告的输出设备Capillary action(毛细管作用):使熔化的焊锡,逆着重力,在相隔很近的固体表面流动的一种自然现象。

  Chip on board (COB板面芯片):一种混合技术,它使用了面朝上胶着的芯片元件,传统上通过飞线专门地连接于电路板基底层。

  Circuit tester(电路测试机):一种在批量生产时测试PCB的方法。包括:针床、元件引脚脚印、导向探针、内部迹线、装载板、空板、和元件测试。

  Cladding(覆盖层):一个金属箔的薄层粘合在板层上形成PCB导电布线。

  Coefficient of the thermal expansion(温度膨胀系数):当材料的表面温度增加时,测量到的每度温度材料膨胀百万分率(ppm)

  Cold cleaning(冷清洗):一种有机溶解过程,液体接触完成焊接后的残渣清除。

  Cold solder joint(冷焊锡点):一种反映湿润作用不够的焊接点,其特征是,由于加热不足或清洗不当,外表灰色、多孔。

  Component density(元件密度):PCB上的元件数量除以板的面积。

  Conductive epoxy(导电性环氧树脂):一种聚合材料,通过加入金属粒子,通常是银,使其通过电流。

  Conductive ink(导电墨水):在厚胶片材料上使用的胶剂,形成PCB导电布线图。

  Conformal coating(共形涂层):一种薄的保护性涂层,应用于顺从装配外形的PCB。

  Copper foil(铜箔):一种阴质性电解材料,沉淀于电路板基底层上的一层薄的、连续的金属箔,它作为PCB的导电体。它容易粘合于绝缘层,接受印刷保护层,腐蚀后形成电路图样。Copper mirror test(铜镜测试):一种助焊剂腐蚀性测试,在玻璃板上使用一种真空沉淀薄膜。#p#分页标题#e#

  Cure(烘焙固化):材料的物理性质上的变化,通过化学反应,或有压/无压的对热反应。

  Cycle rate(循环速率):一个元件贴片名词,用来计量从拿取、到板上定位和返回的机器速度,也叫测试速度。

  D

  Data recorder(数据记录器):以特定时间间隔,从着附于PCB的热电偶上测量、采集温度的设备。

  Defect(缺陷):元件或电路单元偏离了正常接受的特征。

  Delamination(分层):板层的分离和板层与导电覆盖层之间的分离。

  Desoldering(卸焊):把焊接元件拆卸来修理或更换,方法包括:用吸锡带吸锡、真空(焊锡吸管)和热拔。

  Dewetting(去湿):熔化的焊锡先覆盖、后收回的过程,留下不规则的残渣。

  DFM(为制造着想的设计):以最有效的方式生产产品的方法,将时间、成本和可用资源考虑在内。

  Dispersant(分散剂):一种化学品,加入水中增加其去颗粒的能力。Documentation(文件编制):关于装配的资料,解释基本的设计概念、元件和材料的类型与数量、专门的制造指示和最新版本。使用三种类型:原型机和少数量运行、标准生产线和/或生产数量、以及那些指定实际图形的政府合约。

  Downtime(停机时间):设备由于维护或失效而不生产产品的时间。

  Durometer(硬度计):测量刮板刀片的橡胶或塑料硬度。

  E

  Environmental test(环境测试):一个或一系列的测试,用于决定外部对于给定的元件包装或装配的结构、机械和功能完整性的总影响。

  Eutectic solders(共晶焊锡):两种或更多的金属合金,具有最低的熔化点,当加热时,共晶合金直接从固态变到液态,而不经过塑性阶段。

  F

  Fabrication():设计之后装配之前的空板制造工艺,单独的工艺包括叠层、金属加成/减去、钻孔、电镀、布线和清洁。

  Fiducial(基准点):和电路布线图合成一体的专用标记,用于机器视觉,以找出布线图的方向和位置。

  Fillet(焊角):在焊盘与元件引脚之间由焊锡形成的连接。即焊点。

  Fine-pitch technology (FPT密脚距技术):表面贴片元件包装的引脚中心间隔距离为0.025"(0.635mm)或更少。

  Fixture(夹具):连接PCB到处理机器中心的装置。

  Flip chip(倒装芯片):一种无引脚结构,一般含有电路单元。设计用于通过适当数量的位于其面上的锡球(导电性粘合剂所覆盖),在电气上和机械上连接于电路。

  Full liquidus temperature(完全液化温度):焊锡达到最大液体状态的温度水平,最适合于良好湿润。

  Functional test(功能测试):模拟其预期的操作环境,对整个装配的电器测试。

  G

  Golden boy(金样):一个元件或电路装配,已经测试并知道功能达到技术规格,用来通过比较测试其它单元。

  H

  Halides(卤化物):含有氟、氯、溴、碘或砹的化合物。是助焊剂中催化剂部分,由于其腐蚀性,必须清除。

  Hard water(硬水):水中含有碳酸钙和其它离子,可能聚集在干净设备的内表面并引起阻塞。

  Hardener(硬化剂):加入树脂中的化学品,使得提前固化,即固化剂。

  I

  In-circuit test(在线测试):一种逐个元件的测试,以检验元件的放置位置和方向。

  J

  Just-in-time (JIT刚好准时):通过直接在投入生产前供应材料和元件到生产线,以把库存降到最少。

  L

  Lead configuration(引脚外形):从元件延伸出的导体,起机械与电气两种连接点的作用。

  Line certification(生产线确认):确认生产线顺序受控,可以按照要求生产出可靠的PCB。#p#分页标题#e#

  M

  Machine vision(机器视觉):一个或多个相机,用来帮助找元件中心或提高系统的元件贴装精度。

  Mean time between failure (MTBF平均故障间隔时间):预料可能的运转单元失效的平均统计时间间隔,通常以每小时计算,结果应该表明实际的、预计的或计算的。

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